Test head with test cards and manipulator - PR876327-2440-P

<div class="h1">Titel</div> <div class="pre">Test head with test cards and manipulator - PR876327-2440-P</div> <div class="h1">Beschreibung</div> <div class="pre">1 Stück Diese Spezifikation beschreibt die Anforderungen an ein Halbleitertestsystem, das für die Charakterisierung und den Test von Sensor-ICs am Fraunhofer IIS eingesetzt werden soll. Das System muss über Schnittstellen verfügen, die eine Verbindung mit einem Wafer-Probing-System und einem Pick-and-Place-Handler ermöglichen. Das System muss in Hard- und Software kompatibel zu einem bereits bestehenden Advantest V93000 Testsystem in der Fraunhofer-Gesellschaft sein Optionen Installationsbedingungen Wechselspannung (bevorzugte Spezifikation) Versorgungs-Kanäle (High Power) Kanalzahl Erweiterbar auf mindestens Versorgungskanäle (High Power) Erweiterbarer Spannungsbereich pro Kanal (kontinuierlich) Versorgungskanäle (High Power) Erweiterbarer Spannungsbereich pro Kanal (kontinuierlich) Versorgungskanäle (High Resolution) Kanalzahl erweiterbar auf mindestens AWG/Digitizer (High Resolution) AWG Kanalanzahl erweiterbar auf mindestens (single-ended/differentiell) AWG/Digitizer (High Resolution) Digitizer Kanalzahl erweiterbar auf mindestens (single-ended/differentiell) AWG/Digitizer (High Speed) AWG Kanalzahl erweiterbar auf mindestens (single-ended/differentiell) AWG/Digitizer (High Speed) Digitizer Kanalzahl erweiterbar auf mindestens (single-ended/differentiell) Utility I2C-Schnittstelle Hilfsprogramm SPI-Schnittstelle Schnittstelle Kabelschnittstelle zur Pick-and-Place-Handler-Schnittstellenkarte: Möglichkeit zur Herstellung einer geeigneten Kabelschnittstelle, die alle anderen Spezifikationen dieses Dokuments erfüllt Schnittstelle Der Lieferant kann eine Versteifung für die Prüfkopfschnittstelle für die Leiterplatte bereitstellen (die nach dem Erwerb eines ATE-Systems entwickelt werden muss) Manipulator Schwenkwinkel des Prüfkopfes in der Bodenebene (zusätzliche Schwenkhöhe) Zusätzliche Anforderungen Die Kalibrierung kann durchgeführt werden, ohne dass der Prüfkopf von einem Wafer Prober oder einem Pick-and-Place-Handler abmontiert werden muss.</div> <div class="h1">Interne Kennung</div> <div class="pre">LOT-0000</div>