Rasterkraftmikroskop

<div class="h1">Titel</div> <div class="pre">Rasterkraftmikroskop</div> <div class="h1">Beschreibung</div> <div class="pre">Kauf eines Rasterkraftmikroskops mit besonderen technischen Anforderungen wie z.B. atmosphärische Bedingungen: Betrieb unter definierten Temperaturen und unter Gasatmosphären, spülbar mit eigestellter Luftfeuchtigkeit (ca. 30 % bis 96 % relative Luftfeuchtigkeit), aktiv geregelt und Temperatur (-30 °C bis 180 °C) Probenhalter: EC-Zelle, Gas spülbar mit eigestellter Luftfeuchtigkeit (ca. 30 % bis 96 % relative Luftfeuchtigkeit), aktiv geregelt und temperierbar (-30 °C bis 180 °C) Probenhalter: Spezialzelle für Petrischalen (bis 50 mm Durchmesser), muss unter Gasatmosphären betreibbar sein (spülbar), heizbar von Umgebungstemperatur bis 60 °C Messbereich min. 100 µm x 100 µm x 18 µm, motorisierte Probenpositionierung >= 20 mm</div> <div class="h1">Interne Kennung</div> <div class="pre">454MSFHCIW</div>