Prober 300mm (IAF-09.3) - PR971253-2050-P

<div class="h1">Titel</div> <div class="pre">Prober 300mm (IAF-09.3) - PR971253-2050-P</div> <div class="h1">Beschreibung</div> <div class="pre">2 Stück: Prober 300mm Zur automatisierten Charakterisierung von Schaltungen im Millimeterwellenbereich bis ca. 250 GHz mittels S-Parameter- und Leistungs-Messungen werden zwei Waferprober benötigt, die höchste Anforderungen an die Positioniergenauigkeit erfüllen. Kontaktflächen ("Pads") von ca. 10µm müssen über eine "Wafer"-Fläche von ø300 mm präzise und mit hoher Reproduzierbarkeit angefahren werden können. Da diese Wafer in der Höhe um ca. ±10µm variieren können, bedarf es einer automatischen Höhenkorrektur (Z-Profiling). Eine Temperatur-Regelung des Chucks ist notwendig.</div> <div class="h1">Interne Kennung</div> <div class="pre">LOT-0000</div>