Multiparameter Substrate Tester (IZM-36) - PR911796-2590-P

<div class="h1">Titel</div> <div class="pre">Multiparameter Substrate Tester (IZM-36) - PR911796-2590-P</div> <div class="h1">Beschreibung</div> <div class="pre">3 Stück Multiparameter Substrate Tester in einem geschlossenen System: Die Qualifizierung von Substraten und Baugruppen, die Substrate und aktive Komponenten enthalten, ist unerlässlich, um qualifizierte Aussagen über Lebensdauer und Zuverlässigkeit treffen zu können. Zu den Parametern für die Qualifizierung solcher Baugruppen gehören sowohl klimatische Stimuli wie Temperatur und Feuchte als auch elektrische Stimuli wie Hochspannungen von bis zu 3 kV und die präzise Erfassung der daraus resultierenden geringen Leckströme im uA-Bereich. Insbesondere die Qualifizierung von leistungselektronischen Baugruppen, die neuartige Wide-Bandgap-Halbleiter wie SiC und GaN verwenden, erfordert auch dynamisch wechselnde Stimuli wie schnelle Spannungstransienten mit hohen Spannungen und kurzen Anstiegszeiten, um Schaltfrequenzen von bis zu 500 kHz zu simulieren. Eine enge räumliche und funktionale Integration verschiedener Stimulatortypen, z. B. Klimakammer und elektrische Messgeräte, ist notwendig, um Interferenzen und die parasitären Effekte langer Leitungen zu begrenzen. Für diese Eignungsprüfungen ist ein Messsystem erforderlich, das die Prüfbedingungen eines statischen H3TRB, eines dynamischen H3TRB und eines dynamischen HTGB erfüllt. Optionales Feature: - Externes Schalten (DUT passiv) (L.V.-Pos. 2.11)</div> <div class="h1">Interne Kennung</div> <div class="pre">LOT-0000</div>