Frame-Prober-System (IPMS-MRS11.2 ) - PR863846-2480-P

<div class="h1">Titel</div> <div class="pre">Frame-Prober-System (IPMS-MRS11.2 ) - PR863846-2480-P</div> <div class="h1">Beschreibung</div> <div class="pre">1 Stück Frame Prober Waferprober für die Herstellung von Wafern und Substraten. Die Fähigkeit, gewürfelte Wafer mit Chips oder Chiplets auf Dicing Frames Film zu prüfen, ist sehr wichtig. Optimale Serviceleistungen: 2.7 Lader OCR-Reader Top-Side YES 3.10 Wafer Chuck Optional: Austauschbare Chuck Top-Platte JA 3.11 Wafer Chuck Optional: Zusätzliche Chuck Top Plate mit anderer Kundentopologie verfügbar JA 4.16 Messtaster Optional: kapazitive Wafer-Profilierung JA 5.2 Messtaster 200mm Optional: Waferform flach 57mm (JEIDA) YES 5.4 Probing 200mm Optional erweiterte minimale Waferdicke "≤ 200µm Bewertung: 100% kleinster Wert, 20% höchster Wert" 5.5 Probing 200mm Optional erweiterte maximale Waferdicke "≥ 1500µm Bewertung: 100% höchster Wert, 20% kleinster Wert" 8.4 Elektrische Schnittstelle und Fernsteuerung Optionale Fernsteuerung über LAN JA 13.1 Erweiterte Garantie Eine erweiterte Garantie von weiteren 24 Monaten sollte angeboten werden. Während der Garantiezeit sollten alle Kosten für Support, Reparatur und Ersatzteile abgedeckt sein. YES</div> <div class="h1">Interne Kennung</div> <div class="pre">LOT-0000</div>