aberrationskorrigiertes Transmissionselektronenmikroskop

<div class="h1">Titel</div> <div class="pre">aberrationskorrigiertes Transmissionselektronenmikroskop</div> <div class="h1">Beschreibung</div> <div class="pre">Benötigt wird ein doppelt aberrationskorrigiertes Transmissionselektronenmikroskop mit einem Korrektor in der strahlformenden Optik und einem weiteren für das Abbildungssystem. Das Gerät muss für den Betrieb mit Beschleunigungsspannungen von 300 kV, 200 kV sowie mindestens 80 kV bzw. 60 kV ausgelegt und justiert sein. Es muss über mindestens zwei Detektoren für die energiedispersive Röntgenspektroskopie sowie über ein Elektronenenergieverlustspektrometer mit Energiefilterfunktion verfügen. Darüber hinaus sind hochempfindliche und schnelle Kameras und Detektoren erforderlich, um die Signale in den unterschiedlichen Betriebsmodi des Instruments (TEM, STEM, Diffraction, EFTEM, EELS, 4D STEM usw.) optimal aufzunehmen. Eine detaillierte Beschreibung der Leistungsbeschreibung und der Zuschlagskriterien ist der Anlage 3 zu entnehmen.</div> <div class="h1">Interne Kennung</div> <div class="pre">014/2025</div>